半導体ソリューション

セルラーアプリケーションにおいて、5Gおよび6G規格に対応した高性能RF計測およびアプリケーション専用ソフトウェアを使用し、UEから基地局のインフラストラクチャまで、その間のすべてのRFフロントエンドを包括的に検証し、特性評価します。

NI RFハードウェアおよびソフトウェアを使用すると、最新のワイヤレス接続規格に対応できます。Wi-Fi、Bluetooth、超広帯域無線などのRFフロントエンドを検証できます。

5G基地局の開発には、広い周波数帯域、広帯域機能、および汎用性の高いテストが求められ、モジュール式の仮想化コンポーネントで拡張性を確保することは困難です。

高速電源管理、AC/DC/デジタル計測、プロトコルパッケージ、信号チェーンなど、インタラクティブな測定から完全な自動化まで、すべてがシームレスに統合されたNIの最先端の検証ソリューションにより、テストにかかるコストと時間を削減できます。

NTN技術と5Gの進歩により、費用対効果に優れた高スループットの衛星ネットワークが求められるようになり、グローバルな接続には通信速度とテスト効率の向上が不可欠です。

シリコンからワイドバンドギャップまで、パワー半導体技術は急速に発展しており、それに伴い、テストおよび認定の要件や基準も変化しています。NIの新しいダイナミックテストソリューションで、信頼性を確保する方法をご紹介します。

5Gの発展に伴い、研究者たちはすでに6Gの定義に取り組んでおり、AI/ML、サブテラヘルツ周波数、MIMO、およびレーダーセンシングの探求を進めています。コンセプトを検証し、ワイヤレス通信に関する知識を深めるためには、プロトタイプの開発が必要です。

従来の自動テスト装置 (ATE) に代わる、よりスマートな選択肢を見つけることで、複雑化が進むRFおよびミックスドシグナル半導体デバイスのコストとテストカバレッジの要件を満たすことができます。

超並列で柔軟性の高いパラメトリックテストシステムは、時間の経過に伴う変化に容易に適応させ、拡張することができるため、これを活用することで業界の動向を先取りすることができます。