Durchführen von S-Parameter-Messungen
Mit einer Frequenzabdeckung von bis zu 26,5 GHz bieten VNAs von NI InstrumentStudio™ einen vereinfachten Kalibrierprozess für schnelle und genaue Messungen von S-Parametern mit zwei Schnittstellen sowie die Charakterisierung von RF-Komponenten.
Empfohlene Inhalte
Vorteile und Anwendungen des neuen 26,5-GHz-Vektornetzwerkanalysators
In diesem Webinar erfahren Sie, wie mit dem NI PXIe-5633 modulierte Messungen und S-Parameter-Messungen in Verbindung mit dem NI PXIe-5842-VST durchgeführt werden können.
RF-Frontend-Tests mit PXI von NI
Beanspruchen Sie weniger Platz auf dem Prüfstand, verkürzen Sie die Markteinführungszeit und erhalten Sie die Genauigkeit herkömmlicher Benchtop-Messgeräte, indem Sie die PXI-Plattform für RF-Frontend-Tests verwenden.
Ein neuer Ansatz für IC-Tests
Die modulare PXI-Plattform hilft Ingenieuren dabei, die Anforderungen durch effiziente Testautomatisierung zu übertreffen, und das angesichts der zunehmenden Gerätekomplexität, kürzerer Zyklen und steigender Marktanforderungen.
Anwendungsressourcen
Grundlagen für das Erstellen von Testsystemen
Die Festlegung einer Teststrategie und die Planung von Systeminvestitionen sind entscheidende Faktoren, um Kosten zu senken, den Lebenszyklus Ihrer Testinvestitionen zu optimieren und die Effizienz zu maximieren. Erfahren Sie mehr über Teststrategien, bewährte Methoden und mögliche Kompromisse bei der Entwicklung Ihrer Testsysteme.
Ergänzende Produkte
PRODUKTSUPPORT
Produktdokumentation
Hier finden Sie die vollständige Dokumentation zu einem Produkt, darunter Anleitungen und Bedienhinweise.
Support-Bibliothek
Hier können Sie verschiedene Supportinhalte durchsuchen, darunter Beispiele und Hinweise zur Problembehandlung.