模块化数据采集
分布式测量与控制
高性能测试
自动化测试系统开发软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
您可以申请维修、接受服务、安排校准或获得技术支持。但可能需要有效的服务协议。
为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
什么是NI PXI源测量单元?
PXI源测量单元(SMU)不仅结合了高精度电源和测量功能,还提供了一系列功能来帮助用户缩短测试时间和提高灵活性。
摒弃传统的大型机架,采用在仅几英寸空间内提供多达408个SMU通道的PXI机箱,大幅减小占地面积、缩短测试时间、提高吞吐量,并满足当今的各种制造需求。
PXI SMU采用了NI专利技术SourceAdapt,使您无需再自行搭建电路,而且该技术还可通过数字方式控制PXI SMU的瞬态特性,以最大限度提高稳定性、减少过冲以及大幅缩短测试时间。
通过InstrumentStudio软件中基于配置的IV扫描以及在编程环境中进行更高级的自定义,同一台SMU可以针对不同的测试场景进行重新配置并重新调整用途。
避免序列中每个测量执行时主机与SMU通信之间出现延迟,并在执行每个步骤时也可更改各种SMU参数,例如输出模式、孔径时间、电流范围和瞬态响应,从而更快速地获得结果。
提供电流或电压脉冲而非恒定直流电源,可在超出PXI SMU的基本直流电源范围外运行,让您可在散热条件有限或无散热器设施的情况下进行高瞬时功率测试。
入门建议
PXI源测量单元(SMU)套件是由NI最热门的高品质SMU和Thunderbolt™控制机箱组成的预配置套装,可帮助用户轻松入门。
可靠性工程师正在转向灵活的基于PXI SMU的模块化解决方案,以期在降低测试成本的同时增加可靠性数据。
利用基于PXI SMU的fab厂内ATE,IMEC降低了75%的成本,并将晶圆工艺流程测试项目的周期从一个月缩短到了仅仅三天。
随着LED芯片变得越来越小,每个晶圆上的芯片数量也增加到千万级别。NI PXI SMU帮助FitTech克服了测试吞吐量的大挑战。
技术白皮书
最大化直流测量性能
通过本指南,了解提高电源管理IC、RF功率放大器和其他IC的测量精度和产品质量的最佳行业实践。 深入探索SMU工作原理、最小化外部噪声和脉冲的影响等主题:
提供功能,可帮助您测量并测试电子设备的电感、电容和电阻(LCR)。
借助timing set与每通道引脚参数测量单元(PPMU),执行半导体设备的特性分析以及生产测试。
将矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及基于FPGA的实时信号处理和控制相结合。
使用LabVIEW开发软件,在图形化编程环境中构建自定义测试、设计和控制系统。
InstrumentStudio是一个基于配置的环境,用于控制仪器、运行测量以及开发测试序列以加快验证。
查看完整的产品文档,了解如何开始使用该产品。
查看该产品支持的仪器驱动程序以及下载链接。
浏览丰富的支持资源,其中包含大量的范例和疑难解答信息。
请告诉我们您的需求,我们将助您一臂之力。
谢谢
我们将尽快与您联系!