Unübertroffene Kanaldichte
Reduzieren Sie die Testzeit, erhöhen Sie den Durchsatz und werden Sie den aktuellen Fertigungsanforderungen gerecht, indem Sie ein ganzes Rack mit bis zu 408 SMU-Kanälen in einem einzigen PXI-Gehäuse auf einem Raum von nur wenigen Zentimetern unterbringen.
Benutzerdefiniertes Einschwingverhalten
Das Einschwingverhalten der PXI-SMUs lässt sich mithilfe der Technologie NI SourceAdapt digital so steuern, dass die Stabilität erhöht, ein Überschwingen reduziert und Prüfzeiten verkürzt werden, und hilft ihnen dabei, individuell angepasste Schaltungen zu vermeiden.
Integriertes IV-Sweep
Die Neukonfiguration und Wiederverwendung derselben SMU in allen Testfällen erfolgt über konfigurationsbasierte IV-Sweeps in der InstrumentStudio-Software und ermöglicht eine umfassendere Anpassung in den Programmierumgebungen.
Hardware-getaktete Sequenzen
Erzielen Sie schneller Ergebnisse durch die Beseitigung der Kommunikationslatenz zwischen dem Hostrechner und der SMU bei jeder Messung einer Sequenz. Zudem können Sie bei jedem Schritt verschiedene SMU-Parameter verändern wie z. B. Ausgabemodus, Abtastzeit, Strommessbereich und Sprungantwort.
Leistungsstarkes Pulsen
PXI-SMUs können Gleichstrom und -spannung statt konstant auch gepulst ausgeben. So ist ein Betrieb der SMU auch außerhalb der einfachen DC-Grenze möglich, wodurch das Testen bei hoher Momentanleistung und unzureichender bzw. nicht vorhandener Wärmesenke erfolgen kann.
Empfehlungen für Erstbenutzer
PXI-Source-Measure-Unit-Bundle
Das PXI-Source-Measure-Unit-(SMU-)Bundle ist ein vorkonfiguriertes Set aus einem der beliebtesten und qualitativ hochwertigsten SMUs von NI und einem Thunderbolt™-gesteuerten Chassis, das Ihnen den Start erleichtert.
Inhalte im Fokus
Erstellung von Systemen für parallelen Zuverlässigkeitstest auf Wafer-Level mit PXI-SMUs
Ingenieure setzen zunehmend auf modulare, flexible Lösungen basierend auf PXI-SMUs, die die Zuverlässigkeit von Daten erhöhen und zugleich die Prüfkosten senken.
Das Forschungsinstitut IMEC beschleunigt den Projektzyklus um den Faktor 10
Mit einem hauseigenen ATE auf der Basis von PXI-SMUs konnte IMEC die Kosten um 75 % senken und den Projektzyklus für das Testen des Waferprozessablaufs von einem Monat auf nur drei Tage verkürzen.
Display der nächsten Generation mit MiniLED-Test mit hohem Durchsatz
Da LED-Chips immer kleiner werden, steigt die Anzahl der Chips pro Wafer auf zehn Millionen. Die PXI-SMU von NI half FitTech, die Durchsatzprobleme des Unternehmens zu lösen.
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Leistungsoptimierte DC-Messungen
In diesem Leitfaden werden Best Practices vorgestellt, mit denen Sie die Messgenauigkeit und die Produktqualität für Power Management ICs (PMICs), RF-Leistungsverstärker und weitere integrierte Schaltkreise verbessern können. Tauchen Sie tiefer in Themen wie die SMU-Betriebslehre, die Minimierung von Außengeräuschen und die Auswirkungen des Pulsens ein.
- Funktionsweise einer Source Measure Unit (SMU)
- Messgenauigkeit
- Abwägen von Genauigkeit und Geschwindigkeit
- Die Wirkung von Pulsen
Ergänzende Produkte
PRODUKTSUPPORT
Handbücher
Hier finden Sie die vollständige Dokumentation zu einem Produkt, darunter Anleitungen und Bedienhinweise.
Support-Bibliothek
Hier können Sie verschiedene Supportinhalte durchsuchen, darunter Beispiele und Hinweise zur Problembehandlung.