モジュール式データ収集
分散計測/制御
高性能テスト
自動テストシステム開発ソフトウェア
「ビジョン」では、NIがテストとテクノロジの世界で次に何が起こるかをどのように認識しているかについて紹介します。
修理、RMA、キャリブレーション予定、または技術サポートをリクエストいただけます。ご利用にはサービス契約が必要となる場合があります。
NIの集録および信号調整デバイスをサポートします。
Ethernet、GPIB、シリアル、USBおよびその他のタイプの計測器をサポートします。
NI GPIBコントローラおよびGPIBポートを備えたNI組込コントローラをサポートします。
NI PXI LCRメータとは
PXI LCRメータは、電子機器のインダクタンス、キャパシタンス、抵抗 (LCR) をシンプルかつシームレスに測定、テストするのに役立つ機能を提供します。
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半導体開発の検証、デバッグ、実用的なユースケースを紹介します。
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PXIe-4190 LCRメータとSMUの動作をご覧ください。
PXI LCRメータは、シングルスロットのPXIフォームファクタにおいてフェムトファラッドクラスのキャパシタンス測定とフェムトアンペアクラスの電流測定を可能にします。この簡単なデモンストレーションでは、PXI LCRメータが備える機能セットと性能について説明します。
初めてのお客様への推奨事項
PXI LCRメータバンドルは、NIで最も人気のある高品質LCRメータの1つとThunderbolt™制御シャーシの事前構成済みセットで、すぐに使い始めることができます。
PXI SMUに基づくファブ内ATEにより、IMECはコストを75パーセント削減し、ウェーハプロセスフローテストのプロジェクトサイクルを1か月からわずか3日間に短縮しました。
基本となるベストプラクティスを適用することで、テストエンジニアはDC測定確度と製品品質を向上させることができます。
今までにない超小型計測器のNI PXIe-4190 LCRメータおよびSMUでは、検査対象デバイスで接続を切り替えることなくCV/IV計測を実行できます。
高精度ソース/メジャー機能に、テスト時間の短縮と柔軟性の向上を実現する機能を組み合わせた製品です。
半導体デバイスの特性評価および製造テストに不可欠なタイミングセットとパーピンパラメトリック測定ユニット (PPMU) を搭載しています。
InstrumentStudioは、計測器の制御、測定の実行、および検証を迅速化するためのテストシーケンスの開発を行うための構成ベースの環境です。
ベクトル信号発生器とベクトル信号アナライザに、FPGAベースのリアルタイム信号処理/制御機能を組み合わせた製品です。
製品の使い方がよくわかる製品マニュアルをご用意しています。
製品に対応する計測器ドライバを検索して、ダウンロードできます。
サンプルプログラムやトラブルシューティング情報など、あらゆるサポートコンテンツをご用意しています。
ご希望の項目を選択してください。ご案内情報を提供いたします。
ありがとうございます。
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