Digital Pattern Editor
Digital Pattern Editorは、テストパターンのインポートや編集、作成ができる対話式ツールです。デバイスのピンマップ、仕様およびパターンを編集するための各画面を統合したソフトウェアで、デジタルテストベクトルやテストパターンの作成、インポート、編集をサポートします。
デジタルテストパターンのデバッグをサポートするツール群
Digital Pattern EditorにはShmooプロットなどのツールが含まれ、さまざまな条件下でのテスト対象デバイス（DUT）のパフォーマンスをより詳細に把握できます。このほかにも、パターン不良を指定のパターンに重ねて表示したり、デジタルスコープを使ってピン信号をアナログ波形で表示したりできる各種デバッグツールが搭載されています。
プログラミングによるパターンのバースト実行
LabVIEW、C、または.NETなどの開発ツールでNI-Digital Pattern Driverを使用すれば、テストコードを開発してPXIデジタルパターン計測器を操作することができます。
TestStand Semiconductor Module
TestStand Semiconductor Moduleは、Digital Pattern EditorおよびNI-Digital Pattern Driverと連携して動作し、STSのピンマップをサポートしてDUTを中心に据えたマルチサイトプログラミングによる開発が可能です。
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テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。