반도체 제조에서의 품질 이탈 감소
최종 웨이퍼 테스트 및 분류 중에 각 다이는 폐기 또는 제품용으로 분류되어 특정 빈에 할당됩니다. 이 과정은 품질과 수익성 사이를 줄다리기 하는 것입니다. 잘못 폐기된 다이는 수익에 영향을 미치고 잘못 배송된 불량 다이는 품질과 브랜드 평판에 영향을 미칩니다. 모든 반도체 작업은 테스트 및 웨이퍼 분류 과정 중 이 두 가지 오류의 균형을 맞춰야 하며 여기에는 데이터를 기반으로 한 품질 결정 절차가 필요합니다.
- 웨이퍼 맵—주어진 웨이퍼에서 장애 위치를 이해하기 위한 히트맵
- 다층 웨이퍼 분석—핫스팟 및 불량 다이의 패턴을 식별하는 다층 웨이퍼 분석 결과
- 다이 계보 데이터—합격/불합격 결과, 파라미터 데이터 및 웨이퍼/로트 식별을 포함하여 각 다이에 대한 연결된 데이터
반도체 품질 보호를 위한 NI 수명 주기 솔루션
- NI OptimalPlus에서 구현된 NI 수명 주기 수집, 감지, 조치 솔루션 프레임워크는 수율 문제를 거의 실시간으로 모니터링하고 해결할 수 있습니다.
- 웨이퍼 데이터 파이프라인은 웨이퍼 결과에 대한 지속적인 분석 및 통찰력을 허용하는 통합 데이터 형식으로 웨이퍼 테스트 결과를 수집, 변환 및 태그
- 고급 웨이퍼 시각화 및 분석 도구 세트가 패턴 및 이상을 감지하여 고성능 반도체 장치만 고객에게 제공
- 포괄적인 알고리즘 라이브러리 및 고급 상관 관계를 통한 이상값 감지 기능이 분산된 제조 작업 전반에 걸친 감지를 통해 불량 다이를 보다 일관되게 식별
- 품질 위험에 대한 정확한 예측을 기반으로 하는 재테스트 또는 폐기 조치는 불량품이 고객에게 배송되는 것을 방지하는 진정한 보호 기능을 합니다.
NI 솔루션의 장점
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잘못된 디바이스가 폐기되고 모든 좋은 디바이스가 시장에 출시되도록 하여 전체 수율을 최대 2% 향상
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탈출 방지, 이상값 감지, RMA 분석 등을 기반으로 하는 강력한 품질 보장 장치로 고객의 무결점 목표 충족
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품질 문제의 근본 원인 분석 가속화를 통해 품질 지표와 제조 결과를 지속적으로 개선
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테스트 작업을 모니터링하고 불량 부품 배송을 유발할 수 있는 장비 또는 테스트 관련 문제를 정확히 찾아내는 사전 구축된 규칙 라이브러리를 제공
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반품된 장치를 생산 데이터에 연결하여 장애의 근본 원인을 신속하게 파악하고 과거 데이터 분석을 수행하여 제조의 시스템적 문제를 파악
NI 에코시스템에서 나만의 솔루션 구축
NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞춤화된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.
NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 종합 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.
NI 엔터프라이즈 솔루션은 제품 수명 주기 성능을 향상시키는 아키텍처와 어플리케이션을 제공합니다. NI 서비스 팀은 데이터 과학, 엔지니어링 및 프로젝트 관리 전용 리소스를 제공하여 성공적인 솔루션 배포를 할 수 있도록 완벽한 데이터 매핑 및 집중형 결과물을 통해 사용자를 안내합니다. NI 엔터프라이즈 솔루션에 대해 자세히 알아보면서 서비스 옵션에 대해 NI 담당자에게 문의하십시오.